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전자파시험
개요
전자기기에서 발생하는 Noise를 감소하여 다른 전자기기의 동작에 영향을 주지 않도록 하는 한편, 다른 전자기기에서의 Noise 영향도 차단하도록 설계하여 기기로서의 기능을 발휘하는 능력. LSI, 인쇄회로, 기기의 각종 방면에서 검토되고 있다. 전자적 양립성이라고도 합니다.

전자파 장해 및 내성(EMI, Electro Magnetic Interference, EMS Electro Magnetic Susceptibility) 문제는 오늘날 심각한 상태에 다다르고 있으며, 선진 각국에서는 자죽의 규제법을 이용하여 규제대상을 세분화하고, 기준에 부적합한 제품의 수입을 불허하는 등 규제조치를 강화하고 있다.

시험 항목
  • Conducted Emission
  • Radiated Emission
  • Harmonic current emissions
  • Voltage fluctuations and flicker
  • Conducted Transient Immunity
  • Bulk Current Injection
  • Magnetic field
  • Electrical Loads
  • Voltage Transient Emission
  • Electrostatic discharges (ESD)
  • Radiated, radio-frequency, electromagnetic field immunity
  • Electrical fast transients (Burst)
  • Surges
  • Conducted disturbances immunity
  • Voltage dips and interruptions
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